ガス腐食試験

ガス腐食試験の重要性

大気中には排気ガス等から由来する二酸化硫黄(亜硫酸ガス・SO2)、硫化水素(H2S)、二酸化窒素ガス(NO2)、 塩素(Cl2)、オゾン(O3)等の腐食性ガスが存在しています。電子機器の劣化要因の一つである腐食は、腐食性ガス等の周辺環境の影響を受け、起こります。

特に、電子機器が微細化・薄膜化するに従い、影響を及ぼす腐食性ガス濃度の下限が低下する傾向にあり、ガス腐食試験による実環境再現試験や促進試験の実施が必要とされています。

当社では、幅広い濃度範囲に対応したガス腐食環境を再現する試験機を保有しており、電子機器以外にも様々な素材を対象に、実環境再現試験や促進試験の実施とともに試験後の試験片を多様な手法で解析いたします。試験後の腐食部の解析も行うことも可能です。

高濃度ガス腐食試験装置外観

高濃度ガス腐食試験装置外観

低濃度ガス腐食試験装置外観

低濃度ガス腐食試験装置外観

ガス腐食試験後の解析手法例

  • 試験前後の試験片の重量測定(重量の増減)
  • 腐食生成物の観察及び元素分析(SEM、EDS、EPMA)
  • X線回折(XRD)による形態分析
  • XPS、AES、GD-OESによる表面および深さ方向分析
  • 試験片断面観察による腐食深さの評価
  • FT-IRによるゴム、樹脂などの劣化調査
お気軽にお問合せください