粉体特性・焼結体特性評価

各種粉体材料について粒子径、比表面積、細孔分布、ゼータ電位や等電点などの物性値を測定し、表面特性・分散・凝集性などの評価をします。

主な測定項目

  • 比表面積測定(ブレーン法、ガス吸着法)
  • 細孔分布測定(細孔容積、平均細孔径、細孔分布)
  • ゼータ電位測定、等電点測定
  • 粒度分布測定(レーザー回折散乱法、動的光散乱法、標準篩法)
  • その他粉体物性 (ゆるめかさ密度、固めかさ密度、安息角、崩壊角、スパチュラ角、凝集度、分散度、均一度、流動性指数、噴流性指数…パウダーテスターによる)

主な測定装置

  • 比表面積・細孔分布測定装置

    粉体粒子の比表面積とその細孔分布・細孔容積を測定できます。

    測定対象: 各種粉体、触媒、活性炭、シリカゲル、ゼオライト、アルミナ、電極材、多孔質ガラス等
  • 気体置換法密度測定装置

    粉体粒子の見掛け密度を測定できます。

    測定対象: セラミックス、金属等の粉体多孔体
  • 粒度分布測定装置

    以下の3つの測定方法より粉体粒子の粒子径とその粒度分布を測定できます。

    測定方法: 測定範囲
    標準篩法(JISZ8801他) 20μm~100mm
    レーザー回折散乱法 10nm~3mm
    動的光散乱法 3nm~5μm
  • ゼータ電位・粒子径測定装置

    コロイド粒子の分散・凝集性、相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位、粒子径およびpHタイトレーションによる等電点測定が可能です。また、非導電性の平板表面のゼータ電位測定も可能です。

    水系試料:

    無機コロイド、ラテックス、エマルジョン、

    金属コロイド、界面活性剤、食品等

    有機系試料: トナー、樹脂エマルジョン、塗料、顔料等
    平板試料: ガラス、シリコンウェハー、フィルム、陶器等
  • ガス吸着量測定装置外観

    ガス吸着量測定装置外観

    ゼータ電位測定装置

    ゼータ電位・粒子径測定装置